介電強(qiáng)度、介電常數(shù)和體積電阻率的成套儀器設(shè)備解決方案?
介電強(qiáng)度、介電常數(shù)、體積電阻率是三款不同的儀器設(shè)備、又分別有不同的型號(hào)和配置;
其中:【介電強(qiáng)度測(cè)試儀即電壓擊穿試驗(yàn)儀測(cè)試材料的交/直流擊穿電壓、擊穿強(qiáng)度、介電強(qiáng)度、耐壓強(qiáng)度等】分為:2萬伏即LJC-20KV、5萬伏即LJC-50KV、10萬伏即LJC-100KV。均為計(jì)算機(jī)控制。
其中:【介電常數(shù)測(cè)試儀即介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀測(cè)試材料的介電常數(shù)、介質(zhì)損耗因數(shù)、介質(zhì)損耗角正切值】分為:LJD-B頻率范圍10KHZ-70MHZ。LJD-C頻率范圍100KHZ-160MHZ。
其中:【體積電阻率測(cè)試儀即體積電阻率和表面電阻率測(cè)試儀測(cè)試材料的體積電阻、電阻率、表面電阻、電阻率】分為:LST-121測(cè)試電阻液晶屏顯示。ATI-212測(cè)試電阻率觸摸屏顯示。測(cè)試范圍均為: 0.01×104Ω ~1×1018Ω。
【LJC-50KV介電強(qiáng)度測(cè)試儀、電壓擊穿試驗(yàn)儀】
一、適用材料及定義:
主要適用于固體絕緣材料如:電線套管、樹脂和膠、浸漬纖維制品、云母及其制品、塑料薄膜、陶瓷、玻璃、絕緣漆、硫化橡膠、電纜紙、絕緣漆漆膜、硬質(zhì)橡膠、紙板等絕緣介質(zhì)在空氣或液體介質(zhì)中,測(cè)量工頻(48~62Hz)或?qū)?yīng)直流電壓下?lián)舸?qiáng)度和耐電壓時(shí)間。
適用于連續(xù)均勻升壓或逐級(jí)升壓的方式,對(duì)試樣施加交流或直流電壓直至擊穿,測(cè)量擊穿電壓值,計(jì)算試樣的擊穿強(qiáng)度,用迅速升壓的方法,將電壓升到規(guī)定值,保持一定的時(shí)間試樣不擊穿,定此時(shí)規(guī)定值為試樣的耐電壓值。
二、標(biāo)準(zhǔn):
GB1408.1-2006《絕緣材料電氣強(qiáng)度試驗(yàn)方法》
GB1408.2-2006《絕緣材料電氣強(qiáng)度試驗(yàn)方法 第2部分:對(duì)應(yīng)用直流電壓試驗(yàn)的附加要求》
JJG 795-2004 《耐電壓測(cè)試儀檢定規(guī)程》
GB/T1695-2005《硫化橡膠工頻擊穿電壓強(qiáng)度和耐電壓的測(cè)定方法》
GB/T3333《電纜紙工頻擊穿電壓試驗(yàn)方法》
GB12913-2008《電容器紙》
ASTM D149《固體電絕緣材料工業(yè)電源頻率下的介電擊穿電壓和介電強(qiáng)度的試驗(yàn)方法》
三、主要技術(shù)要求:
1、設(shè)備輸入電壓:220V (普通試驗(yàn)室電源均可兼容);
2、試驗(yàn)電壓方式:交流0-50 KV;直流0-50 KV
3、電器容量:5KVA
4、試驗(yàn)方法:0-50KV;全量程可調(diào)(采用高精度電壓采樣器件);
5、擊穿及耐壓試驗(yàn)升壓速率:0.1KV/S-10KV/S(此項(xiàng)滿足標(biāo)準(zhǔn)里面快速升壓試驗(yàn)要求);
6、試驗(yàn)方式:直/直流試驗(yàn):1、勻速升壓 2、階梯升壓 3、耐壓試驗(yàn)
7、過電流保護(hù)裝置應(yīng)有足夠靈敏度以保證試樣擊穿時(shí)在0.1S內(nèi)切斷電源。
8、本儀器采用無觸點(diǎn)原件勻速調(diào)壓方式
09、支持短時(shí)間內(nèi)短路試驗(yàn)要求。
10、電壓測(cè)量誤差:1%。
11、試驗(yàn)電壓連續(xù)可調(diào):0-50KV
12、耐壓時(shí)間設(shè)定:0-99小時(shí)(可通過軟件連續(xù)設(shè)定)。
13、主機(jī)尺寸:約800*700*1300MM長寬高
14、主機(jī)重量:約100KG
15、九級(jí)安全防護(hù)措施:
(1) 超壓保護(hù)
(2)試驗(yàn)過流保護(hù)
(3)試驗(yàn)短路保護(hù)
(4)安全門開啟保護(hù)
(5)軟件誤操作保護(hù)
(6)零電壓復(fù)位保護(hù)
(7)試驗(yàn)結(jié)束放電保護(hù)
(8)立保護(hù)接地
【LJD-C介電常數(shù)測(cè)試儀、介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀】
一、概述:
LJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器,測(cè)試頻率上限達(dá)到目前國內(nèi)高的160MHz.LJD-C介電常數(shù)測(cè)試儀采用了多項(xiàng)技術(shù)。
雙掃描技術(shù) - 測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。
雙測(cè)試要素輸入 - 測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。
雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧,數(shù)碼化電容調(diào)諧。
自動(dòng)化測(cè)量技術(shù) -對(duì)測(cè)試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測(cè)量。
全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號(hào)源頻率、諧振指針。
DDS 數(shù)字直接合成的信號(hào)源 -確保信源的高葆真,頻率的高、幅度的高穩(wěn)定。
計(jì)算機(jī)自動(dòng)修正技術(shù)和測(cè)試回路化 —使測(cè)試回路 殘余電感減至低,* Q 讀數(shù)值在不同頻率時(shí)要加以修正的困惑。
二、主要技術(shù)特性:
*1.信號(hào)源: DDS數(shù)字合成信號(hào) 100KHZ-160MHZ
*2.信號(hào)源頻率精度3×10-5 ±1個(gè)字,6位有效數(shù)
3.Q值測(cè)量范圍:1~1023
4.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔;
*5.電感測(cè)量范圍:1nH~140mH 自身殘余電感和測(cè)試引線電感的自動(dòng)扣除功能
*6.電容直接測(cè)量范圍:1pF~25nF
7.主電容調(diào)節(jié)范圍: 17~240pF
8.準(zhǔn)確度 150pF以下±1pF;150pF以上±1%
9.信號(hào)源頻率覆蓋范圍100kHz~160MHz
10.合格指示預(yù)置功能范圍:5~1000
11.環(huán)境溫度:0℃~+40℃;
12.消耗功率:約25W;電源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
13. S916(數(shù)顯)介電常數(shù)εr和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測(cè)試裝置:
數(shù)顯式微桿,平板電容器:
片尺寸: 38mm
片間距可調(diào)范圍:≥15mm
夾具插頭間距:25mm±0.01mm
夾具損耗正切值≤4×10-4 (1MHz)
測(cè)微桿分辨率:0.001mm
測(cè)試片:材料測(cè)量直徑Φ38mm厚度可調(diào) ≥ 15mm
*液體杯:測(cè)量片直徑 Φ38mm; 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm
14. 電感組LKI-1:
分別有0.05μH、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十個(gè)電感組成
【LST-121體積電阻率測(cè)試儀、體積表面電阻率測(cè)試儀】
一、符合標(biāo)準(zhǔn)及適用范圍:
LST-121體積表面電阻率測(cè)試儀*符合標(biāo)準(zhǔn)GB1410-2006固體電工絕緣材料絕緣電阻、表面電阻系數(shù)和表面電阻試驗(yàn)方法,ASTM D257 絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法等標(biāo)準(zhǔn)要求。本儀器配不同的測(cè)量電(夾具)可以測(cè)量不同材料(固體、粉體或液體)的體積電阻率和表面電阻率或電導(dǎo)率。本儀器除能測(cè)電阻外,還能直接測(cè)量微弱電流。
二、技術(shù)指標(biāo)
1、電阻測(cè)量范圍: 0.01×104Ω ~1×1018Ω。
2、電流測(cè)量范圍: 2×10-4A~1×10-16A
3、顯 示 方 式:觸摸屏、電阻、電阻率、電流、電壓。
4、內(nèi)置測(cè)試電壓: 10V 、50V、100V、250V、500V、1000V(任意切換)
5、基本準(zhǔn)確度:2% -10%(*注)
6、使用環(huán)境: 溫度:0℃~40℃,相對(duì)濕度<80%
7、供電形式: AC 220V,50HZ,功耗約5W
8、儀器尺寸: 360*350*170mm
9、質(zhì)量: 主機(jī)約5KG
10、全自動(dòng)測(cè)量、體積小、重量輕、準(zhǔn)確度高,電阻、電阻率雙顯示,性能好穩(wěn)定、讀數(shù)方便
11、所有測(cè)試電壓(10V/50V/100/250/500/1000V) 測(cè)試時(shí)電阻結(jié)果直讀,免去老式高阻計(jì)在不同測(cè)試電壓下或不同量程時(shí)要乘以系數(shù)等使用不便的麻煩,使測(cè)量超高電阻就如用萬用表測(cè)量普通電阻樣簡便。
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